有機發(fā)光二極管(OLED)壽命測量系統
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Ossila OLED壽命系統旨在為OLED壽命測試提供長(cháng)期和低成本的解決方案。壽命測試是優(yōu)化你的OLED設備穩定性并大程度減小退化的必要工具。
更新時(shí)間：2021-08-18 14:18:59
有機發(fā)光二極管(OLED)壽命測量系統
Ossila OLED壽命系統旨在為OLED壽命測試提供長(cháng)期和低成本的解決方案。壽命測試是優(yōu)化你的OLED設備穩定性并大程度減小退化的必要工具。
Ossila將源測量單元與專(zhuān)門(mén)設計的測試板和直觀(guān)的軟件相結合，提供了一個(gè)強大和用戶(hù)友好的OLED壽命測試系統。它可以與8像素和6像素Ossila基片系統兼容，使用戶(hù)能夠輕松地制造和測試OLED器件。本產(chǎn)品免費保修2年。
光電二極管蓋子
系統概述
OLED壽命測試系統的主要組件包括一個(gè)源測量單元，一個(gè)Ossila測試板(手動(dòng)或自動(dòng))和一個(gè)特別設計的光電二極管蓋。這些都是通過(guò)OLED Lifetime軟件控制的，這使您的測量更容易，更節省時(shí)間。
自動(dòng)化測試板可以控制一系列開(kāi)關(guān)，這些開(kāi)關(guān)可以在沒(méi)有用戶(hù)干預的情況下循環(huán)通過(guò)像素點(diǎn)。電子元件垂直堆疊，減少了系統的占地面積，減少了實(shí)驗室空間的浪費。這種小巧的設計使用戶(hù)可以將壽命測試儀放置在空間有限的地方，如手套箱。
器件被固定在光電二極管蓋下的測試板內。該系統利用兩個(gè)內置的源測量單元(smu)來(lái)表征該設備。一個(gè)SMU通過(guò)測試板進(jìn)行JV操作，而另一個(gè)SMU測量光電二極管電流。測試板和光電二極管通過(guò)BNC電纜連接到源測量單元。
請注意，雖然光電二極管的光譜靈敏度與人眼相匹配，但它沒(méi)有被校準為絕對光度測量，只測量光電流.
部件清單 |
復用板測試板/ 6像素推合測試板/ 8像素推合測試板 |
帶Centronic OSD50-E眼反應光電二極管的光電二極管蓋& 帶光學(xué)接口的標準蓋 |
BNC電纜線(xiàn) x 2 |
鋁箱 |
OLED壽命測量系統軟件 + 用戶(hù)指南 |
直觀(guān)和高度定制的OLED壽命軟件套件執行JV, JVL*和壽命測量。
用戶(hù)可以執行一個(gè)初始JV/JVL掃描以確定LED和光電二極管的工作電流。然后，這些數據被用來(lái)選擇一個(gè)LED或光電二極管電流，在其中開(kāi)始壽命測量。電壓自動(dòng)調整，以保持LED電流恒定超過(guò)所需的測量時(shí)間。
JVL和生命周期數據都可以輸出到.csv文件，以便于編制文檔。
OLED壽命測試軟件控制面板
更多信息請參見(jiàn)OLED壽命測量系統軟件指南。
*光度測量是相對的，基于測量的光電二極管電流，而不是絕對的。
功能特征
系統類(lèi)型 | 手動(dòng) | 自動(dòng) |
±10 V 源區段 | 是 | 是 |
±333 μV 源分辨率 | 是 | 是 |
±100 mA 測量范圍 | 是 | 是 |
±10 nA 測量分辨率 | 是 | 是 |
是否包括軟件 | 是 | 是 |
IV 曲線(xiàn)測量 | 是 | 是 |
OLED 壽命測量 | 是 | 是 |
適用于S101, S211或S171基片 | 是 | 是 |
自動(dòng)匹配開(kāi)關(guān) | 是 | 是 |
多設備壽命測量 | 是 | 是 |
技術(shù)規格
電壓范圍 | ±100 μV to ±10 V |
電流范圍 | 10 nm to 100 mA |
基片尺寸 | 20 mm x 15 mm |
基片系統兼容性 | |
外形尺寸 – 手動(dòng)版 (T2004) | 源測量單元:
|
外形尺寸 – 自動(dòng)版 (T2005) | 寬: 155 mm |
軟件要求
支持的操作系統 | Windows 10 (32-bit or 64-bit) |
顯示器z低分辨率 | 1600 x 900 |
推薦的顯示器分辨率 | 1920 x 1080 |
需要的硬盤(pán)空間 | 400 MB |
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